гдезгл - расстояние плоскости входного зрачка от первой преломляющей поверхности; а4 - стрелка на первой поверхности.

Вычисление координат точек пересечения косых лучей с преломляющими поверхностями позволяет точно определить световые размеры цилиндрических линз анаморфотных насадок.

8. Анаморфотные системы обладают еще одним специфическим свойством, значительно снижающим качество изображения систем, - разностью глубин изображаемого пространства в различных сечениях ана-морфота.

Смещению dx плоскости предметов вдоль оптической оси будет соответствовать смещение dx плоскости изображений, различное для горизонтального и вертикального сечений анаморфота вследствие различия фокусных расстояний в этих сечениях:

Поперечные размеры кружков рассеяния лучей представятся в виде:

где ег и ев относительные отверстия анаморфота в горизонтальном и вертикальном сечениях; угловые размеры кружков рассеяния в соответствующих сечениях анаморфота выразятся соотношениями:

Если относительные отверстия в обоих сечениях анаморфота равны, то отношение угловых размеров кружков рассеяния в двух сечениях равно отношению фокусных расстояний. Это создает разность глубин резко изображаемого пространства в двух направлениях; этот эффект тем более неприятен для восприятия, что он наблюдается уже в центре изображения. Рационально соблюсти условие равенства максимально допустимых значений угловых размеров кружков рассеяния в обоих .сечениях анаморфота, т. е.

(V.40)

dyr = ег dxT; dyB = ев dxB ,

(V,40,>

(V,40 >

(V,41>

Тогда из уравнения (V, 40 ) находим, что

ег/г = ев/в

(V,42>

ев А

(V,42>

8 8 8 8 a

> 5 5 > £ . .

д.. Б'

to - ~

8 8 8

о

4*. О

со о

со to СЛ оо

СО 00

о о

4*. СО 4*. О 4*. СО О

1 СО ООО

СО СО СО 00

о о о

о-о

Фокусное расстояние объектива f,

Геометрическое относительное отверстие е

Эффективное относительное отверстие

Угол поля по ширине кадра 2w

II я = 8 *

п

k а I 5

о в

lis в*

о to

Освещенность на краю поля, %

Число компонентов и линз

Р

8. I

н

е

О Я

п fi

или на основании формулы (V, 9):

- = Л>- (V.42 )

Таким образом, для устранения разности глубин резко изображаемого пространства в разных сечениях анаморфота относительные отверстия объектива в вертикальном и горизонтальном сечениях должны быть различными: отношение их величин должно быть равным анаморфозе системы. В том сечении анаморфота, в котором фокусное расстояние больше, относительное отверстие должно быть меньше, и наоборот. Осуществить это возможно путем установки в центрированном объективе апертурной ирисовой диафрагмы не круглой, а эллипсоидальной формы.

На основании исследований специфических свойств анаморфотных систем вначале в ГОИ, а с 1959 года - на кафедре физики и оптики ЛИКИ Д. Волосовым и Ш. Печатниковой были разработаны оптические схемы и проведены расчеты (в выполнении которых им помогали А. Шахнович и Р. Фахретдинова) всех отечественных анаморфотов. В ЦКБК были изготовлены все опытные образцы. В табл. V, 17 приведе-. * ны.все основные оптические характери-

7асадкааЯ CfSSSi стики анамоРФотныхкиносъемочных си-%ети стем, выпускаемых нашей промышленностью. Они изготовляются в виде насадок НАС и блоков БАС к объективам широкого диапазона фокусных расстояний - от 22 до 200 мм*. Гадкие Объективы средних фокусных рас-

ризонтальном (меридиональном) се* СТОЯНИЙ - 50 ММ, 1 .* 2; 75 ММ, 1 : 2;

80 мм, 1 : 2 и 100 мм, 1 : 2,8 - оснащаются насадками (или выпускаются в виде блоков) с афокальной анаморфотной системой Бифокатор-4 (НАС-4 или БАС-4). Это четырехлинзовая двухкомпонентная система, у которой оба компонента склеены из двух цилиндрических линз (рис. V, 26). Система малогабаритная: ее длина 100 мм. Дистанционная фокусировка осуществляется перемещением второго компонента, что, по-видимому, несколько удобнее для оформления конструкции насадки, чем перемещение первого компонента, как было в наших ранних разработках. В пределах изменения дистанции от 1,5 м до бесконечности второй компонент передвигается на 11 мм. Расстояние uD между главными плоскостями неподвижного первого компонента и движущегося второго компонента при различных дистанциях съемки определяется по формуле:

D + 2fi + VD-A(f[ + D)f2 A3)

* См. сноску на стр. 408